高科技廠房之半導體或光電等設備制程，因為建筑物本身、人員走動及內(nèi)部機械與周遭環(huán)境之擾動而產(chǎn)生共振，進而導致產(chǎn)品不佳率的增加；為有效降低微振動對產(chǎn)品不佳率之影響，應使機械設備于符合微振動標準之環(huán)境下運作。為達到「昆山龍騰光電有限公司」廠房內(nèi)Array 電測新機基座之微振動反應符合通用振動規(guī)范要求，故委托「昆山祺邁測控設備有限公司」進行設備基座測量，以確保產(chǎn)品之合格率。本次檢測的目標項目為Array 電測新機基座的振動分析。